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簡(jiǎn)要描述:GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在最短時(shí)間內準確地完成測試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測試方案,能夠實(shí)現高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
詳細介紹
型號:GP200
名稱(chēng):8英寸手動(dòng)探針臺
應用:專(zhuān)門(mén)為升級和擴展所設計的各種選項,可輕松實(shí)現如負載牽引系統、太赫茲系統、輻照系統、1/f噪聲等系統的搭載,GP200系統也可根據您的未來(lái)項目需求進(jìn)行重新配置。
GP200擁有穩定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統結合分辨率<2μm的針座系統,確保扎針的穩定性。在直流應用中,GP200高品質(zhì)的電纜和三軸信號通路,可使DUT特性分析達到Fa 標準;射頻應用中,通過(guò)縮短擴頻模塊與探針之間連接器的距離,可高效且更好地實(shí)現THz內器件高品質(zhì)參數的提取。優(yōu)益的三軸低漏點(diǎn)載物臺的選件,能夠給器件測試帶來(lái)更多的信心。
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